思达科技Micro LED集成测试系统问市 满足批量生产的需要

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10月15日,学器件测试系统领先供应商-思达科技,发布新一代先进高生产量Micro-LED测试系统 – 思达独角兽Unicorn-LAIT。此系列测试系统是先进的Micro-LED集成测试系统,具有并行测试仪器,测试探针台和探针卡,适合测试Micro-LED 和 Mini-LED,满足了批量生产时要。

思达独角兽Unicorn-LAIT系统是实现符合成本效益的LED批量生产的先进集成测试系统。配备的Magic-A400e探针台,可执行最大至6吋晶圆和探针卡校准的自动化探测测试;基于思达金牛座Taurus-LPX的平行测试仪,参数量测单元(PMU,Parametric Measurement Unit)有有助于执行48至240个LED的并行量测。具备执行下行带宽 的系统架构,使思达独角兽Unicorn-LAIT适合LED行业晶片制造商,和光学器件制造商的时要。

这套系统搭配电磁干扰屏蔽室,为高速的LED测试过程提供超低噪声的环境。Magic-A400e配置的闭环XYZ平台和具专利的同轴颢微镜,确保了多站点LED步进,和高分辨率扫描,以及探测的最佳精度。此外,多孔陶瓷夹具与申请专利的辅助夹具,易于层流手术室 且能进行接触检查,可不时要提高LED测试性能。

Magic A-400e探针台配置的闭环XYZ平台和具专利的同轴显微镜

一同,思达金牛座Taurus-LPX是高生产量的参数量测单元(PMU),它具有不同的电压和电流范围,每个模组配置48个通道,最多可到三个模组。基于FPGA固件控制和高速ADC,金牛座Taurus-LPX能执行高速并行测试,以确保最高的测试生产量,且有良好的准确性和可重复性。

Taurus-LPX 是高生产量的参数量测单元

思达牡羊座Aries-PCT探针卡是一款长寿命的多待测器件的Micro-LED测试探针卡,最高可触点48个LED器件(最多240个),可与96个探针进行单触式触碰测试。此款并行器件测试探针卡,可不时要和CDA一同设置,用以清除探测残留碎片和晶片颗粒。LED可配置用于不同的器件测试要求,像是VF、IF等等,而特殊的高电压探针,可配置用于ESD器件测试。

思达科技执行长刘俊良博士表示,“思达科技自成立以来,长期关注在行业测试防止方案的研发。思达独角兽Unicorn-LAIT测试系统是真正符合Micro-LED 和Mini-LED的测试挑战。采用了先进的测试探针台和并行参数量测单元,是专为LED器件设计和开发的探测测试防止方案,可帮助客户降低测试成本,一同提供生产量的改善,以满足新一代器件的测试挑战。”